4. Testarea Sistemelor
- Details
- Parent Category: Anul 4
- Category: Sem 2
- Last Updated: Wednesday, 14 January 2015 11:56
- Hits: 12163
Anul IV, TS - Testarea Sistemelor
Specializarea: C1
Curs: Ion Bucur
Materiale de curs:
-
Elearn:
- 01 - Modelarea functional la nivel logic si RTL modele structurale.pdf
- 02 - Tipuri de simulare, valoarea logica necunoscuta.pdf
- 03 - Modele logice ale defectelor.pdf
- 04 - Detectia defectelor si redundanta.pdf
- 05 - Echivalenta defectelor si localizarea lor.pdf
- 06 - Dominanta defectelor.pdf
- 07 - Modelul blocajului simplu.pdf
- 08 - Modelul defectului blocaj multiplu.pdf
- 09 - Tehnici generale de simulare a defectelor.pdf
- 10 - Simularea defectelor din circuitele combinatioale.pdf
- 11 - Generarea automata a testelor blocaje simple.pdf
- 12 - GAT independenta de defecte.pdf
- 13 - Generarea aleatoare a testelor.pdf
- 14 - Generarea combinata a testelor det-alea.pdf
- 15 - GAT pentru circuitele secventiale.pdf
- 16 - Modelul defectului scurtcircuit.pdf
- 17 - Testarea functionala fara modele ale defectelor.pdf
- 18 - Proiectarea generica bazata pe scan.pdf
- 19 - Boundary Scan Design.pdf
- 20 - Introducere in conceptele BIST.pdf
- 21 - Generarea vectorilor de test pentru BIST.pdf
- 22 - Arhitecturi specifice BIST.pdf
- 23 - Concepte avansate BIST.pdf
- Variante anterioare (TSC - Testarea Sistemelor de Calcul)
Laboratoare:
Alte materiale:
